汽车电子 AEC-Q...

发布时间 2026.05.19

随着现代汽车电子化、智能化程度持续提升，车载电子系统占比不断加大，半导体器件的环境可靠性已成为汽车产业关注的核心要点。高级驾驶辅助系统、新能源汽车电源模块、车载...

查看更多

高加速压力测试（HA...

发布时间 2026.05.06

在半导体与集成电路封装行业，产品可靠性直接决定市场竞争力与长期口碑。随着电子器件不断小型化、集成化，传统温湿度老化测试周期长、效率低，已经无法匹配快速迭代的研发...

查看更多

【科明新品】HAST...

发布时间 2020.10.30

匠心设计·传递温度|科明HAST/HALT高加速寿命老化试验箱，满足试验温度范围：+105℃~+145℃,湿度范围：65% ～ 100%R.H，气压范围0.5~...

查看更多