HAST高压加速老化箱

HAST高压加速老化箱 （第四代）

HAST高压加速老化箱用途：

通过提高环境应力（温度）与工作应力（电压）加快实验过程，缩短产品寿命时间，评估器件在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力（相比于THB,温度增加，压力增大，实验的时间可以缩短，加快试验的进程）。HAST高压加速老化箱试验类别包括：低温步进应力试验、高温步进应力试验、快速热循环试验、综合应力试验、工作应力试验。

HAST高压加速老化箱

HAST高压加速老化箱特点：

适用的研发和工艺改进

1.    高温扩散工艺技术的改进（重点是高温长时间扩散，如隔离扩散）包括可能引起硅片内部隐裂的工艺技术改进。

2.    包封工艺技术、框架处理工艺技术的改进。

3.    塑封料、框架的变更。

4.    新产品（含新的封装结构）。

5.    封装工艺过程中的污染。

HAST高压加速老化箱产品安全防护：

1.    漏电断路器安全保护。

2.    意外断电时系统自动切断总电源，供电时需要人为操作恢复系统正常工作。

3.    设备供电部分有漏电保护开关，整机外壳安全接地。

HAST高压加速老化箱试验应用范围：

是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证，特别是在半导体，太阳能和其他工业中，作为标准温度湿度偏差测试（85C/85%RH—1000小时）的快速有效替代方案。

HAST高压加速老化箱参考标准：

IEC 60068-2-66:1994  Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)

GB/T 2423.40-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热