科明新品--HAST高加速寿命试验机
HAST高加速寿命试验机
HAST高加速寿命试验机用途：
HAST高加速寿命试验机·简称HAST,产品满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）二极管、三极管、场效应管和可控硅等半导体分立器件,车规级芯片的高压高湿加速老化试验，满足GB/T2423.40-1997,IEC60068,JESD22试验标准。
HAST高加速寿命试验机 型号HAST-35
测试目的：
HAST高加速寿命试验机是针对非气密性封装器件，主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力的各种条件来完成，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。
HAST高加速寿命试验机常用试验标准：
GB/T 2423.40 未饱和高压蒸汽恒定湿热
IEC 60068-2:66
JESD22-A110D
AEC Q101
JIS C0096-2
其中
1. GB/T 2423.40里面详细阐述了对进行HAST试验的试验箱的具体要求,如升降温的时间、试验箱对温湿度的精度控制要求等。
2. JSD22-A110D详细阐述了HAST试验的方法，如建议的试验条件(如130°C85%RH)、产品Bias如何施加等，另外也对HAST的失效机理进行了说明。
3. AECQ101明确了汽车电子行业对HAST的具体要求。
4. GB/T 2423.40试验方法（如下）。
温度℃ | 相对湿度% | 持续时间/h | ||
Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | ||
110 | 85 | 96 | 192 | 408 |
120 | 85 | 48 | 96 | 192 |
130 | 85 | 24 | 48 | 96 |
除非相关规范另有规定，应使用本表的温度和持续时间的组合之一。每一种温度都规定了三种持续时间。在110℃、120℃和130℃时，试验机应维持蒸汽压力分别约为0.12Mpa、0.17Mpa和0.23Mpa。 | ||||
试验箱工作空间的温度容差为士2℃; 试验箱工作空间的湿度容差为士5%R.H; 试验持续时间的容差为0h~+2 h。 | ||||
产品性能指标:
设定温度: +105 ℃ ～ +142 ℃( 饱和蒸气温度 )
湿度范围: 65 % -100 %蒸气湿度
湿度控制稳定度：±1%RH
使用压力: 0.05~0.32Mpa
温度波动度 : ±0.5℃
温度显示精度：0.1℃
湿度波动度：±2.5%RH
容积大小：35L