产品介绍

英文名称：High Pressure Cooking Testing Chamber
产品别名：PCT加速老化试验箱，高压蒸煮试验箱、高温高压高湿试验箱、PCT、高压蒸煮测试箱、PCT老化箱、饱和高压老化箱、饱和高度加速寿命老化箱等可靠性试验设备。
产品用途：
适用于IC 封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。
应用领域：
IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品。
产品特点：
1.满足IEC60068 -3试验标准。
2.产品采用100%RH （STD饱和湿度测试模式），满足饱和稳态湿热试验。
3.全自动补水功能,前置式水位确认。
产品参数：
PCT高压蒸煮试验箱 HAS试验箱（自动门） HAST高压加速老化箱 UHAST/BHAST

产品实拍