• 产品介绍

    英文名称:Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test

    产品别名HAST寿命试验箱,高压蒸煮试验箱、HALT、 HAST 试验箱,高加速温度和湿度压力测试箱,HAST CHAMBER,加速老化试验机,高温高湿高压老化箱,加速寿命试验机,高压加速老化箱,寿命高加速试验箱,饱和稳态湿热试验箱,HAST测试箱等可靠性试验设备。

    产品用途

    HAST试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

    应用领域

    广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

    产品特点

    ◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

    ◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

    ◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。

    产品参数

    更多型号支持非标定制

    恒温恒湿试验箱

    适用标准:GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    当今的技术正在朝着具有较高漏芯电流的器件的薄型/低几何尺寸封装发展,这会产生内部功耗,进而将水分从芯片/器件中带走,

    并阻止了与水分相关的失效机理的分析。

    HAST(高度加速的温度和湿度应力测试)已成为设备封装可靠性和鉴定过程的关键部分,它主要用于评估潮湿环境下非密封包装设备的可靠性。这是通过在高度受控的压力容器内设置和创建温度-湿度-压力的各种条件来完成的,这些条件加速了水分通过外部保护性塑料封装的渗透,

    并将这些应力条件施加到芯片/器件上。

    根据JEDEC JESD22-A110常见测试条件有:130°C / 85%RH / 33.3 psia和 110°C / 85%RH.17.7磅/平方英寸,持续时间:96或264小时。


HAST高压加速老化试验箱

HSAT/HALT试验系列:满足温度范围+105℃~+162.5℃,压力范围0.019~0.393Mpa

  • 型号: KM-HAST-55
  • 生产方式: 非标定制
  • 品牌: KOMEG
  • 产地: 广东·松山湖
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