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产品介绍
产品概述
HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、高湿等加速寿命信赖性试验，适用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
产品特性
内胆采用双层圆弧设计，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果；采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态；
采用7寸真彩式触摸屏，拥有99组4950段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；
采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。
执行试验方法与标准
·GB 10589-89低温试验箱技术条件
·IEC 68-2-14试验N
·GB 11158-89高温试验箱技术条件
·GJB 150.3-86/150.4-86
·GB 10592-89高低温试验箱技术条件
·GB 2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验
·A:低温试验方法;
·GB 2423.1低温试验、试验A
·GB 2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验
·B:高温试验方法;
·GB 2423.2高温试验、试验B
·GB 2423.22温度变化试验，试验N
产品参数
型号
HAST-35（不饱和型）
内箱尺寸（mm）
（圆筒型压力内箱）
直径Ø
350
深D
450
外箱尺寸（mm）
宽W
880
高H
1560
深
1160
温度范围
+105℃～+135℃
(145℃为特殊选购机型)
+105℃～+162.5℃
(可定制)
湿度范围
HUM不饱和测试模式：65%RH~100%RH
STD饱和测试模式：100%RH
100%RH（STD饱和测试模式）
压力范围
表压力：+0.2kPa ～ 200kPa
*绝对压力：100kPa ～ 300kPa
温度波动度
±0.5℃
温度分布均匀度
≤3.0℃
温度偏差
≤±3.0℃
湿度波动度
±3.0％RH
湿度偏差
±5.0％RH
压力偏差
≤±2 kPa
升温速率
+25℃～+135℃， 全程平均约 45 min (空载，不发热)
升压时间
常压 ～ 200kPa 45min
内箱材质
SUS316不锈钢板，内胆整体全满焊焊接而成
外箱材质
优质冷轧钢板，表面静电粉体烤漆
保温材质
超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1
箱门
单开门，平嵌式旋转把手
机组
蓄水箱、散热风口、自动补水泵、补水电磁阀，水位盒、排水孔
应急泄压
手动泄压阀
控制器
科明7寸彩色触摸屏智能控制器
*操作系统：科明KM-5160 压力温湿度版
保护装置
超温保护、箱内压力保护、断路、过载保护、风机过载保护、箱门紧锁保护、缺水保护、漏电保护、报警动作
标准配件
不锈钢样品架2层、移动脚轮(配脚杯)4式
*注：各参数尺寸及外观根据客户要求量身定做
我们保留修改技术参数的权利
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