电子电器常见老化试验项目及测试方案

消费类电子产品老化试验项目和说明

是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力，适用于电气绝缘材料的耐热性试验，电子零配件、塑化产品之换气老化试验，考核和判断其在高温环境条件下贮存和使用的适应性，试样在模拟高温和大气压力下的空气中老化后测定其性能并与未老化样的性能予以比较。

老化试验的作用：1.对于工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果。2.对于无缺陷的元器件，老化也可促使其电参数稳定。

老化试验的项目：

高低温湿热老化试验：适用于各种复杂的湿热老化测试，根据产品在使用过程中，容易受到温度和湿度的双重影响，根据不同的产品标准、行业标准设定温度、湿度变化曲线，以评定是否适合在潮湿的环境下长期使用。

执行试验标准：GB/T 15905、GB/T 2573、GB/T 2423，JG/T 25。

光照老化测试：模拟自然界全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波,并对材料进行耐光性与耐候性加速试验。

执行试验标准：GB2423、.ISO 4892、.ISO 11341、ASTM G155、ASTM D4459。

盐雾腐蚀老化：用于模拟大气中的溶解于水蒸汽中的氯化钠对涂层、镀层等保护程以及金属地材的腐蚀作用，常进行中性盐雾、酸性盐雾、铜离子加速盐雾测试。

执行标准： GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JISZ2371。

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