-
芯片上市前,必不可少...
HAST高加速老化测试(Highly Accelerated Stress Test),在芯片的可靠性测试中,扮演者测试芯片封装的耐湿能力的角色。将待测产品置...
查看更多 -
如期相约,感谢赴约丨...
助力5G可靠性测试,体现科明的整体形象以及科技研发实力、新技术、好产品,积极拓展市场,加强行业交流。我司在第22届中国国际光电博览会信息通信展开设展位,为来访的...
查看更多 -
科明团建丨齐心协力烹...
秋风吹送秋日到,暑热消去烦躁跑。在金秋十月的最后一天,科明组织了一次别开生面的厨艺大比拼团建活动,以此增强团队凝聚力和融合度,提高各部门同事之间熟悉感和协助能力...
查看更多