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芯片上市前,必不可少...
HAST高加速老化测试(Highly Accelerated Stress Test),在芯片的可靠性测试中,扮演者测试芯片封装的耐湿能力的角色。将待测产品置...
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如期相约,感谢赴约丨...
助力5G可靠性测试,体现科明的整体形象以及科技研发实力、新技术、好产品,积极拓展市场,加强行业交流。我司在第22届中国国际光电博览会信息通信展开设展位,为来访的...
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【科明新品】多系统双...
科明多系统双风道试验设备-水脉冲试验机是专门针对试验介质为抗燃型冷却液(乙二醇和水的混合液),其脉冲压力小,脉冲频率低的试件而研发设计生成的一套综合性试验机。产...
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